膜厚測(cè)試儀測(cè)量電鍍層厚度

我公司銷(xiāo)售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長(zhǎng)色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備）、塑料（無(wú)鹵測(cè)試等）、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護(hù)、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、醫(yī)療器械重金屬含量測(cè)試、人體微量元素和化合物檢驗(yàn)等等。銷(xiāo)售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測(cè)試，電鍍鍍層厚度檢測(cè)等。以下介紹電鍍：

檢測(cè)電鍍層厚度的方法有很多。根據(jù)檢測(cè)方法的原理可以分為物理法和化學(xué)法兩大類(lèi)?；瘜W(xué)法有溶解法、計(jì)時(shí)流液法、電量法等；物理法有直接測(cè)量法、質(zhì)量法、磁性法、β射線反射法、X射線熒光法、多相顯微鏡法、輪廓儀法等。

溶解法（電解式或庫(kù)倫式）是將一定表面積的鍍層用化學(xué)試劑溶解下來(lái)，然后將試樣稱(chēng)重得到溶解下鍍層的質(zhì)量，再根據(jù)鍍層金屬的密度和試樣的面積可以換算得到鍍層的厚度。溶解法不適宜鍍層與基體金屬含有相同金屬成分的鍍層厚度檢測(cè)。

計(jì)時(shí)流液法讓一定流速的細(xì)流溶液與試樣鍍層作用使試樣鍍層局部液解。根據(jù)溶液顏色的變化，或電勢(shì)的變化，或電流的變化來(lái)確定鍍層溶解的終點(diǎn)。鍍層的厚度是根據(jù)溶解所需要的時(shí)間來(lái)計(jì)算的。

計(jì)時(shí)點(diǎn)滴法是讓小滴試液在鍍層表面局部停留一定時(shí)間后再更換新液滴，直到將鍍層溶解露出基體金屬為止。然后，根據(jù)溶解鍍層所用時(shí)間來(lái)計(jì)算鍍層厚度。該方法精度較低，很少使用。目前僅用于厚度小于l．2μm的薄鉻鍍層。

電量法是將已知鍍層表面積的試樣用恒定電流密度的電流進(jìn)行陽(yáng)極電解溶解，當(dāng)鍍層金屬溶解完畢時(shí)，試樣的電勢(shì)發(fā)生突變。根據(jù)試樣鍍層面積、電解通過(guò)的電量、電流效率、鍍層金屬的密度等來(lái)確定鍍層的厚度。該方法對(duì)多層金屬鍍層可以更換電解液進(jìn)行連續(xù)測(cè)定。

斷面金相法是將被測(cè)試樣制備成斷面試樣，然后在顯微鏡下觀察測(cè)量鍍層厚度。該方法測(cè)量精度高，重現(xiàn)性好。缺點(diǎn)是要專(zhuān)門(mén)制備試樣，操作較麻煩，一般不用作車(chē)間生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)鍍層厚度的檢測(cè)。

磁性法是以探頭測(cè)量試樣的磁通量和互感電流。磁性基體表面的非磁性鍍層或其他覆蓋層厚度不同對(duì)磁通量和互感電流的影響是呈線性變化的。通過(guò)這些物理量的變化值來(lái)確定覆蓋層的厚度。該方法測(cè)量鍍層厚度時(shí)對(duì)試樣無(wú)損傷，可用于鐵基體上非磁性覆蓋層的測(cè)量，如電鍍層、噴涂層、涂料層、塑料層和陶瓷層等。是電鍍工業(yè)廣泛使用的測(cè)厚方法之一。

β射線反向散射法是將放射性同位素的β射線射向試樣，然后一些射線被反射至探測(cè)器。反射的β射線的強(qiáng)度與鍍層種類(lèi)和厚度有關(guān)，因此可以測(cè)得鍍層的厚度。該方法精度高，適用于大多數(shù)金屬鍍層，若鍍層金屬與基體金屬之間的原子序數(shù)相差較大時(shí)，厚度測(cè)量的靈敏度也會(huì)提高，故該方法特別適用于測(cè)量貴金屬鍍層。

輪廓儀法測(cè)試鍍層厚度的原理是溶解鍍層(驗(yàn)收試驗(yàn))或在電鍍前掩蓋一部分基體(生產(chǎn)檢驗(yàn))以形成一臺(tái)階。用輪廓記錄儀測(cè)量臺(tái)階的高度。該方法的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)是《GB／Tll378—2005金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量輪廓儀法》。

X射線熒光法是利用X射線來(lái)激發(fā)鍍層和基體金屬的特性X射線，通過(guò)測(cè)量鍍層衰減后的X射線的強(qiáng)度來(lái)確定被測(cè)鍍層的厚度。該方法精度高，可以用于大多數(shù)鍍層和金屬基體。但是所測(cè)厚度需要用標(biāo)準(zhǔn)樣品校正。

以下介紹X射線光譜儀測(cè)試電鍍儀器：

詳細(xì)配置信息：

一、硬件：主機(jī)壹臺(tái)，含下列主要部件：  

(1)   X光管                  (2) SDD電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器

(3) 信號(hào)檢測(cè)電子電路        (4) 高精度二維移動(dòng)平臺(tái)

(5) 高清晰攝像頭            (6) 高低壓電源

(7)  開(kāi)放式樣品腔            (8）雙激光定位裝置

(9)  手推式屏蔽保護(hù)系統(tǒng)

二、軟件及其他：X熒光光譜儀厚度分析軟件

2.1 計(jì)算機(jī)、打印機(jī)各一臺(tái)

計(jì)算機(jī)（品牌，液晶顯示屏）、打印機(jī)（品牌，彩色噴墨打印機(jī)）

2.2 資料：儀器使用說(shuō)明書(shū)（包括軟件操作說(shuō)明書(shū)和硬件使用說(shuō)明書(shū)）、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。

2.3 標(biāo)準(zhǔn)附件

準(zhǔn)直孔： 0.1*0.3mm，Ф0.15mm，Ф0.2mm，Ф0.3mm，Ф0.5mm（可選其中一種，內(nèi)置于儀器中）

標(biāo)準(zhǔn)樣品校驗(yàn)片：銅鍍銀一片（選配）

鍍層檢測(cè)：

2.1、常見(jiàn)金屬鍍層有：

2.2、單層厚度范圍：

金鍍層0－8um,

鉻鍍層0-15um,

其余一般為0-30um以?xún)?nèi)，

可最小測(cè)量達(dá)0.001um。

2.3、多層厚度范圍

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

2.4、鍍層層數(shù)為1-6層

技術(shù)協(xié)議

一.技術(shù)指標(biāo)：

1.1 分析元素范圍：S-U

1.2 同時(shí)可分析24個(gè)元素，五層鍍層以上

1.3 分析厚度檢出限最高達(dá)0.005μm

1.4 定位精度：0.02mm

1.5 測(cè)量時(shí)間：5s以上

1.6 計(jì)數(shù)率：0-8000cps

1.7 Z軸升降范圍：0-140mm

1.8 圖像聯(lián)動(dòng)系統(tǒng)，可編程，可實(shí)現(xiàn)單點(diǎn)，多點(diǎn)，網(wǎng)格多種控制

1.9 X/Y平臺(tái)可移動(dòng)行程（選配）。

二.工作環(huán)境要求：

2.1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

2.2 環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

2.3 工作電源：交流220±5V

2.4 周?chē)荒苡袕?qiáng)電磁干擾。

三.儀器驗(yàn)收

3.1 按合同清點(diǎn)全部?jī)x器內(nèi)容；

3.2 儀器的各項(xiàng)功能正常使用和各軟件的運(yùn)轉(zhuǎn)正常；

3.3儀器安裝后甲方簽署使用條件確認(rèn)書(shū)；

3.4 以說(shuō)明書(shū)為準(zhǔn)；

3.5 甲方驗(yàn)收合格之后，由甲乙雙方簽署驗(yàn)收合格確認(rèn)書(shū)、保修單等。

3.6 甲方需在收到儀器15日內(nèi)，提供符合本合同第二條“工作環(huán)境要求"的儀器安裝地點(diǎn)；協(xié)同乙方完成裝機(jī)和培訓(xùn)并參與合同產(chǎn)品的驗(yàn)收。如甲方在收到儀器15日內(nèi)，未向乙方提出書(shū)面質(zhì)量異議或無(wú)法協(xié)同乙方完成裝機(jī)培訓(xùn)，則視為合同標(biāo)的已驗(yàn)收合格，甲方不得提出異議。

售后服務(wù)條款

1. 發(fā)貨與安裝調(diào)試

1.1 乙方確認(rèn)收到甲方預(yù)付款后     日內(nèi)發(fā)貨，并將發(fā)貨單  至甲方。

1.2 乙方收到甲方的收到貨物的書(shū)面通知之日起    日內(nèi)，乙方派技術(shù)工程師到達(dá)甲方地點(diǎn)，進(jìn)行安裝、調(diào)試、培訓(xùn)，使儀器能夠正常使用。

1.3 甲方驗(yàn)收合格之后，由甲乙雙方簽署驗(yàn)收合格確認(rèn)書(shū)。

2 . 驗(yàn)收方法：

按照公司的技術(shù)規(guī)格驗(yàn)收。

3. 技術(shù)培訓(xùn)：

現(xiàn)場(chǎng)培訓(xùn)：儀器在安裝調(diào)試同時(shí)，我司工程師對(duì)用戶(hù)就儀器原理和基本操作進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)培訓(xùn)，使用戶(hù)能正常操作。

4.售后服務(wù)承諾：

1） 乙方對(duì)所出售本合同所規(guī)定的儀器進(jìn)行終身維修；

2） 軟件免費(fèi)升級(jí)：如有軟件升級(jí)，乙方將免費(fèi)提供升級(jí)軟件，如需上門(mén)升級(jí)按技術(shù)服務(wù)條款收取相關(guān)費(fèi)用；

3） 保修條款

3.1 乙方對(duì)本合同銷(xiāo)售儀器設(shè)備自驗(yàn)收合格之日起免費(fèi)保修1年。

3.2 免費(fèi)保修期內(nèi)，維修相關(guān)費(fèi)用全免；

3.3 保修期結(jié)束后，乙方為甲方提供維修服務(wù)的資費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)如下：

交通費(fèi)、住宿費(fèi)由甲方承擔(dān)；

資費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)：硬件成本費(fèi)用——按乙方時(shí)價(jià)計(jì)算

硬件運(yùn)輸費(fèi)——實(shí)報(bào)實(shí)銷(xiāo)

服務(wù)費(fèi)——800元 / 人 / 天

人員交通費(fèi)——實(shí)報(bào)實(shí)銷(xiāo)

人員住宿費(fèi)用——￥250元/天

（注：因各項(xiàng)成本逐年增加，乙方承諾收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)在合同簽訂之日起二年內(nèi)保持不變，后續(xù)若有合理變動(dòng)不做另行通知）

4） 技術(shù)服務(wù)的響應(yīng)期限：提供好的技術(shù)服務(wù)，在接到用戶(hù)故障信息后，4小時(shí)內(nèi)響應(yīng)；如有必要，12～72個(gè)小時(shí)內(nèi)派人上門(mén)維修和排除故障。

5） 非乙方產(chǎn)品自身故障所造成的現(xiàn)場(chǎng)技術(shù)服務(wù)（如增加測(cè)試功能和數(shù)據(jù)校正等），乙方將按技術(shù)服務(wù)條款收取相關(guān)費(fèi)用。由甲方人為造成的損傷不在上述保修條款中，具體事例雙方協(xié)商解決。

5. 甲乙雙方的義務(wù)

5.1 乙方自行承擔(dān)費(fèi)用，按公司標(biāo)準(zhǔn)包裝形式對(duì)買(mǎi)方所購(gòu)產(chǎn)品進(jìn)行包裝；

5.2 乙方自行承擔(dān)費(fèi)用，托運(yùn)公司將產(chǎn)品托運(yùn)至甲方地點(diǎn)；

5.3 乙方自行承擔(dān)費(fèi)用，派工程技術(shù)人員上門(mén)裝機(jī)，調(diào)試儀器到優(yōu)良工作狀態(tài)；

5.4 乙方自行承擔(dān)費(fèi)用，負(fù)責(zé)培訓(xùn)甲方操作人員，培訓(xùn)內(nèi)容為儀器分析原理、結(jié)構(gòu)、操作、維護(hù)保養(yǎng)、簡(jiǎn)單維修、軟件使用、方法建立、樣品測(cè)試等。乙方免費(fèi)向甲方提供一次培訓(xùn)服務(wù)，如甲方另有額外的培訓(xùn)要求，乙方將按技術(shù)服務(wù)條款收取相關(guān)費(fèi)用。

5.5 甲方需在收到儀器15日內(nèi)，提供符合本合同第二條“工作環(huán)境要求"的儀器安裝地點(diǎn)；協(xié)同乙方完成裝機(jī)和培訓(xùn)并參與合同產(chǎn)品的驗(yàn)收。如甲方在收到儀器15日內(nèi)，未向乙方提出書(shū)面異議而無(wú)法協(xié)同乙方完成裝機(jī)培訓(xùn)，則視為合同標(biāo)的已驗(yàn)收合格，甲方不得提出異議。

5.6 甲方按合同規(guī)定向乙方支付合同約定的款項(xiàng)。

膜厚測(cè)試儀測(cè)量電鍍層厚度